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脈沖試驗發(fā)生器，脈沖測試是一種(zhǒng)能(néng)夠減少器件總能(néng)耗的測量技術。它通過(guò)減少焦耳熱效應(例如I2R和V2/R)，避免對(duì)小型納米器件可能(néng)造成(chéng)的損壞。脈沖測試采用足夠高的電源對(duì)待測器件(DUT)施加間隔很短的脈沖，産生高品質的可測信号，然後(hòu)去掉信号源。
通過(guò)脈沖測試，工程技術人員可以獲得更多的器件信息，更準确地分析和掌握器件的行爲特征。例如，利用脈沖測試技術可以對(duì)納米器件進(jìn)行瞬态測試，确定其轉移函數，從而分析待測材料的特征。脈沖測試測量對(duì)于具有恒溫限制的器件也是必需的，例如SOI器件、FinFET和納米器件，可以避免自熱效應，防止自熱效應掩蓋研究人員所關心的響應特征。器件工程師還(hái)可以利用脈沖測試技術分析電荷俘獲效應。在晶體管開(kāi)啓後(hòu)電荷俘獲效應會(huì)降低漏極電流。随著(zhe)電荷逐漸被(bèi)俘獲到栅介質中，晶體管的阈值電壓由于栅電容内建電壓的升高而增大;從而漏極電流就(jiù)降低了。
脈沖測試爲人們和研究納米材料、納米電子和目前的半導體器件提供了一種(zhǒng)重要手段。
脈沖測試有兩(liǎng)種(zhǒng)不同的類型:加電壓脈沖和加電流脈沖。
電壓脈沖測試産生的脈沖寬度比電流脈沖測試窄得多。這(zhè)一特性使得電壓脈沖測試更适合于熱傳輸實驗，其中我們所關心的時間窗口隻有幾百納秒。通過(guò)高精度的幅值和可編程的上升與下降時間能(néng)夠控制納米器件上的能(néng)耗大小。電壓脈沖測試可用于可靠性測試中的瞬态分析、電荷俘獲和交流應力測試，也可用于産生時鍾信号，模拟重複控制線，例如存儲器讀寫周期。
電流脈沖測試與電壓脈沖測試非常相似。其中，將(jiāng)指定的電流脈沖加載到DUT上，然後(hòu)測量器件兩(liǎng)端産生的電壓。電流脈沖測試常用于測量較低的電阻，或者獲取器件的I-V特征曲線，而不會(huì)使DUT産生大量的能(néng)耗，避免對(duì)納米器件的損害或破壞。
脈沖:電壓(V)或電流(A)的波形象心電圖上的脈搏跳動的波形 但現在聽到的什麼(me)電源脈沖、聲脈沖……又作何解釋呢--脈沖的原意被(bèi)延伸出來得: 隔一段相同的時間發(fā)出的波等機械形式，學(xué)術上把脈沖定義爲:在短時間内突變，随後(hòu)又迅速返回其初始值的物理量稱之爲脈沖。